どうでもいい話。Galaxy S8(他のGalaxyにもあるとは思うが)のハードウェアテストモード(ダイヤラーから*#0*#)の項目にHALL ICというのがあり、これを開くと記事画像のように●で場所を示した画面が表示されるのだが、これまでどういったテストなのかわからなかった。どうやらこの場所に磁石を近づけて離すと反応する模様。たまたまXiaomi Smart Band 7の充電ケーブル(バンド側端子)を近づけてみたら引っ付く部分があったのでハードウェアテストを開いたらその部分がテスト対象だったとは(もちろんテスト対象外の部分もあるけど)。HALL ICの名の通り中のICのテストかの。
